标谱全自动探针台——开启芯片测试高效新时代
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-05-27 | 59 次浏览 | 分享到:

在芯片行业竞争日益激烈的今天,如何提高芯片测试的效率和质量,成为企业关注的焦点。标谱自主研发的全自动探针台,以其先进的技术和卓越的性能,为芯片测试带来了全新的解决方案,开启了芯片测试高效新时代。

这款全自动探针台主要针对正装、倒装LED芯片、CSP LED等芯片进行光学及电性测试。在芯片生产过程中,光学和电性测试是确保芯片性能符合要求的重要环节。标谱全自动探针台采用了高精度运控及视觉系统,这一系统的运用就像是为设备装上了一双“慧眼”,能够对被测材料进行极其精密的定位。无论芯片在测试台上的位置如何,它都能迅速、准确地找到并定位,为后续的探针接触和测试做好充分准备。

在测试过程中,全自动探针台展现出了其强大的功能。它通过探针主动下压点亮芯片,这一动作看似简单,却蕴含着先进的技术。在高速运转的状态下,探针能够精准地与芯片接触,并迅速采集电性数据及光学数据。这些数据是评估芯片性能的关键依据,而标谱全自动探针台所配备的高精度测试仪器,能够对每个品粒进行细致入微的电气特性检测和光学参数检测。这种全面、精准的检测方式,可以及时发现芯片存在的问题,为芯片的优化和改进提供有力的数据支持。

设备的兼容性是标谱全自动探针台的又一优势。它能够适应不同尺寸的芯片测试需求,最小可测3x3mil,最大可测120x120mil的芯片。这种广泛的兼容性使得它可以在不同类型的芯片生产线上使用,大大提高了设备的利用率。同时,最多可配20针进行同步测试,这一设计极大地提高了测试效率,缩短了测试时间,为企业节省了宝贵的时间和成本。

在承片治具方面,标谱全自动探针台支持7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等多种规格。这意味着用户可以根据自己的实际需求选择合适的治具,无需再为治具不匹配而烦恼。这种灵活性和便利性,进一步提升了设备的使用价值。

标谱全自动探针台还搭载了一套完善、稳定、高效能的运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统和高精度测试仪。这些先进的系统和仪器相互协作,使得整机实现了高集成化布局,体积紧凑小巧。这不仅方便了设备的安装和运输,还提高了系统的运行效率和稳定性。在实际使用中,用户可以感受到其测试精度更高,能够为芯片的研发和生产提供更加准确、可靠的数据,从而帮助企业提高产品质量,增强市场竞争力。

标谱全自动探针台以其高效、精准、兼容性强的特点,为芯片测试领域带来了新的变革。它将助力芯片企业在激烈的市场竞争中脱颖而出,推动芯片产业不断向前发展。