标谱自主研发的正倒装一体探针台
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2024-07-09 | 521 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:
这一优异性能的探针台专为正装 LED 芯片、倒装 LED 芯片、CSP LED 等芯片的光学及电性测试而精心打造。
本机凭借高精度的运控及视觉系统,能够对被测材料实现精密定位。即便在高速运转的情况下,通过探针下压点亮芯片,从而精准采集电性数据与光学数据。同时,利用高精度的测试仪器,对每个晶粒展开电气特性检测和光学参数检测。
值得一提的是,该设备的测试范围广泛,最小可测 3x3mil 的芯片,最大能测 120x120mil 的芯片。而且,机台最多配备 20 针,可同步进行测试,其承片治具更是支持 7 寸子母环、4 寸特规小铁环和 6 寸 DISCO 铁环等多种规格。
此外,还搭载了标谱自主开发的一套完善、稳定且高效能的运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统,以及高精度测试仪。从而轻松实现自动扫描、自动测试以及自动输出文档。整机采用高集成化布局,体积紧凑小巧,系统高效稳定,测试精度更是出类拔萃。
例如,在实际测试某款新型倒装 LED 芯片时,正倒装一体探针台展现出了超乎寻常的精准定位能力,迅速而准确地采集到了丰富且精确的数据。又如,面对大规模的芯片测试任务,其自动扫描和自动测试功能大幅提高了工作效率,减少了人工操作的误差。
您觉得这样的优化是否符合您的需求?如果您还有其他的想法或建议,欢迎随时向我提出。0755-23307599,13510864359

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