QFN/DFN测包机:精准检测,铸就芯片高品质
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-12-10 | 41 次浏览 | 分享到:

深圳市标谱半导体股份有限公司的QFN/DFN测包机以其1200pcs/min的高速测试速度,为半导体生产企业带来了显著的生产效能提升。在快节奏的生产环境中,这款设备能够快速完成芯片的测试与编带工作,大大缩短了生产周期,提高了生产线的整体产能,使企业能够更好地满足市场需求。

双重测试,严格质量把控

2站测试模式是这款测包机保障芯片质量的重要措施。不同站点的测试针对芯片的不同性能指标进行检测,能够全面、深入地评估芯片的质量状况。通过这种严格的双重测试方式,可以有效发现芯片在生产过程中出现的各种问题,及时进行整改,确保每一颗芯片都符合高质量标准。

视觉检测,洞察细微瑕疵

5站视觉检测系统凭借其高精度的图像识别能力,能够洞察芯片表面的每一个细微瑕疵。它可以检测出芯片的划痕、污渍、氧化等缺陷,以及引脚的弯曲、变形等情况。这种精准的视觉检测技术,为芯片的品质提升提供了有力保障,使得企业能够生产出更加优质、可靠的芯片产品。

模块优势,便捷维护升级

模块化设计是这款测包机的一大创新亮点。各个模块之间相互独立,便于拆卸和安装。当设备出现故障时,维修人员可以快速定位故障模块,并进行更换或维修,大大缩短了维修时间。同时,模块化设计也使得设备的升级更加方便,企业可以根据技术发展和生产需求,对设备进行模块升级,提升设备的性能和功能。