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QFN和DFN芯片的封装特点决定了外观检测的重要性。这两种封装形式的芯片体积小、引脚细密,在生产和搬运过程中容易出现引脚变形、焊盘污染、芯片偏移、封装裂纹等外观缺陷。单纯依靠电气测试无法发现这些问题,而这些外观缺陷若流入后续封装工序,可能导致焊接不良或可靠性问题。因此,视觉检测是QFN/DFN芯片质量管控中不可缺少的环节。
标谱QFN/DFN测包机配置了5个视觉检测站。5站的设计并非简单的数量叠加,而是基于QFN/DFN芯片的外观特征进行的覆盖规划。芯片在通过检测区域时,5个检测站从不同角度对芯片进行图像采集,覆盖引脚、焊盘、芯片本体、封装边缘等多个关键部位。相比单站或双站视觉检测,5站配置能够更全面地捕捉外观缺陷,降低漏检概率。
标谱测包机的2站测试与5站视觉检测构成了互补的检测体系。电气测试判定芯片的功能是否正常,视觉检测判定芯片的外观是否合格。两者的检测维度不同,但目标一致——确保出货芯片同时满足功能和外观标准。PLC系统将两类检测结果进行综合判定,只有同时通过电气测试和视觉检测的芯片才会被判定为良品并进入编带环节。
视觉检测不仅是质量判定手段,也对编带质量有间接贡献。通过5站视觉检测,设备可以识别芯片的方向和位置偏差,并将这些信息反馈给植入机构。植入机构根据视觉检测结果将芯片按照设定方向放入载带,避免因芯片方向不一致导致的编带混乱。视觉检测与植入机构的联动,使得编带成品中的芯片排列整齐、方向统一。
标谱测包机的5站视觉检测参数可根据不同芯片型号进行调整。当产品切换时,视觉检测的阈值、判定标准、检测角度等可在PLC系统中重新设定,无需更换硬件。这一特性使得同一台设备能够适应多种QFN/DFN芯片的外观检测需求,提升了设备的柔性和适用范围。
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