标谱QFN/DFN测包机:不良品排除机制与良品编带流程
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-06-01 | 91 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:


不良品排除在质量管控中的位置

在QFN/DFN芯片的测试编带流程中,不良品排除是连接检测与包装的关键环节。标谱QFN/DFN测包机在完成2站测试和5站视觉检测后,由PLC系统根据全部检测结果对芯片进行判定。判定为不良品的芯片在进入编带环节之前被自动排除,不会被植入载带。这一机制确保了编带成品中不包含任何未通过检测的芯片。

排除机制的执行方式

标谱测包机的不良品排除动作由分选机构执行。当PLC系统判定某颗芯片为不良品时,分选机构在芯片到达植入工位之前将其导出至不良品收集区域。整个排除过程在芯片高速流动的产线上完成,动作时间被控制在极短的范围内,不影响整条流程的节拍。由于排除动作由PLC精确控制,不良品与良品的分离准确率较高,误排除和漏排除的概率被控制在较低水平。

良品植入的定向控制

通过检测的良品芯片由植入机构进行处理。标谱测包机的植入机构按照设定方向将芯片放入载带的凹槽中。方向控制是植入环节的核心要求——芯片在载带中的朝向必须一致,否则后续封装工序中的取用和焊接都会受到影响。植入机构的动作由PLC驱动,定位精度经过调试,确保每一颗芯片在载带中的位置和方向都符合工艺要求。

热压胶膜编带的封合过程

编带流程的最后一步是使用热压胶膜对载带进行封合。标谱测包机在芯片植入完成后,将热压胶膜覆盖在载带上方,通过加热和加压使胶膜与载带粘合,形成封闭的包装单元。热压的温度和压力参数由PLC控制,确保封合强度满足包装要求,同时不会因温度过高对芯片造成热损伤。封合完成后,编带成品被输出,等待后续的包装或出货流程。

排除与编带的闭环逻辑

从检测到排除、从植入到编带,标谱测包机形成了一套完整的闭环流程。检测结果驱动排除动作,排除结果决定植入对象,植入完成后进入编带,编带完成后输出成品。每一步都由PLC系统根据上一步的结果自动执行,整个过程不需要人工对每一颗芯片进行判定和操作。这一闭环逻辑是测包机实现1200pcs/min高速运行的基础。


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