全自动探针台——芯片光电测试的高集成平台
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-06-18 | 2 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

全自动探针台——芯片光电测试的高集成平台


从LED照明到新型显示技术,芯片级的光电性能测试是品质把控的核心环节。标谱科技全自动探针台聚焦正装、倒装LED芯片及CSP LED等类型,可同时完成光学参数采集与电性参数检测,一套设备即可满足多维测试需求,大幅减少工序流转,帮助客户提升测试效率。


该设备具备优异的兼容性,可适配多种主流芯片尺寸范围,承片治具支持7寸子母环、4寸特规小铁环及6寸DISCO铁环等不同规格,能够灵活应对多种晶圆载环的应用场景。探针系统配置灵活,可支持多针同步测试,显著提升单次测试效率,满足大规模量产测试的需求。在精密定位方面,设备搭载高精度XYθ工作台及视觉组件,通过观察相机实现探针与芯片引脚的精准对位,扫描相机对芯片逐一定位,确保每一个晶粒都被准确触达,杜绝因定位偏差造成的误测。


全自动探针台集成了标谱自主研发的运动控制、视觉算法及光电测试软件系统,整机结构紧凑,内置一体式自动上下料设计,不额外占用场地空间,对于空间有限的实验室和生产车间尤为友好。设备还配备主动式探边器、自主研发的ESD测试系统及力值检测系统,并具备完善的防撞保护、料盒监测、自动数片等功能,全方位保障测试过程的稳定与安全。无论是研发分析还是量产测试,全自动探针台均能提供稳定、高效的测试体验。