转塔式分选机——多站测试+六面视觉检测,为半导体芯片打造全能分选平台
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-07-03 | 286 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

转塔式分选机——多站测试+六面视觉检测,为半导体芯片打造全能分选平台

  在半导体封装芯片的测试分选环节,设备的速度、精度与扩展能力直接决定了产线的整体效率。标谱转塔式分选机是专为SOT、SOP、SOD、QFN、DFN等半导体封装芯片设计的全自动化测试、分选、编带一体机。


  设备采用工业计算机控制系统结合运动控制卡的方式,通过标谱自主研发的高效稳定的振动盘将材料输送至转塔,随后材料经过主测试站和拓展副站的检测,将不良器件筛选之后,最终进行编带完成包装。


  转塔式分选机由DD马达驱动主转塔旋转以及主转塔上可以独立上下运动的吸嘴。DD马达作为核心动力源,不仅驱动主转塔高速旋转,还控制着转塔上独立运作的吸嘴实现精准上下移动,从而确保了设备运行的高效性与稳定性。

凭借卓越的重复定位精度,设备在高速运转中依然保持精准的物料传输。


  在检测配置方面,设备支持多站测试配置与多站视觉检测。测试站芯片接触方式可选弹片式或夹片式,并配有激光红外传感器,可检测产品叠料情况。副盘组件可选一体式或分体式,标配多个吸盘位,可选配扫尘、打标等功能。


  振动盘为标谱自主研发、自主制造,稳定可靠、故障率低。导轨上料时配有光纤检测产品是否到位,精度高、反应快,盘面经过特殊处理,防磨、防静电。模块化设计使得设备可灵活定制和后期拓展测试站功能,维护也方便快捷。


  转塔式分选机以其高度自动化、精准测试、灵活配置及高效产能等特点,在半导体封装芯片测试分选领域展现出卓越的性能和优势。