QFN/DFN测包机——从测试到编带全自动衔接,为微小型芯片封装提供一站式方案
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-07-27 | 40 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

QFN/DFN测包机——从测试到编带全自动衔接,为微小型芯片封装提供一站式方案

  QFN与DFN芯片完成电气测试后,要经过怎样的流程才能变成一卷可供贴片机使用的编带?答案是:排料、转向、植入载带、热压封合、收卷——多个步骤紧密衔接,任何一步出现偏差都可能导致整盘产品报废。如果这些步骤

分散在不同的设备或依赖人工操作,品质管控将变得极为困难。标谱QFN/DFN测包机将测试、排料与编带集成为全自动连续流程,从芯片进入设备到成品载带输出,全程无需人工干预。


  供料环节采用高效振动盘将散装芯片有序送入碟片分度盘。碟片分度盘以精密间歇旋转的方式,将芯片依次运送至测试站与影像检测站。测试站对芯片的电气性能进行验证;视觉检测支持多站配置,从引脚完整性、印字清晰度

等多个角度对芯片外观进行检查。所有检测数据在设备内部实时汇总,系统对每一颗芯片做出“通过”或“不通过”的判定。


  排料环节的智能化处理体现了设备对良率的严格把控。检测不合格的芯片不会被简单丢弃,而是根据其缺陷类型被分类收集至多个NG料盒中——这种“分缺陷类型收集”的设计,为工艺工程师分析不良品分布、定位制程问题提供

了宝贵的数据支持。良品芯片则继续沿设备内部通道前进,进入编带准备阶段。


  编带准备阶段包括方向调整与位置校正。根据检测环节获取的极性信息,设备自动将芯片旋转至预设的入带方向;植入机构将芯片从碟片分度盘中取出,以精确的位置和姿态将其放入载带凹槽。自动补料功能在检测到载带空缺

时主动补充良品,确保编带成品的连续性。


  编带环节采用反复热压覆膜工艺完成胶膜与载带的封合——热压温度和压力根据载带材质和芯片特性精确调节,确保封口牢固的同时避免对芯片造成热损伤。载带以马达驱动平稳收卷,完成编带包装的全部流程。整机采用PLC控

制系统与运动控制卡协同工作,对各工位动作进行精确时序协调,结构设计注重模块化,各功能单元可独立拆装,日常清洁维护与易损件更换更加便捷。


  标谱QFN/DFN测包机以高度自动化的流程整合能力,为微小型芯片的测试与编带提供了专业、高效的一站式封装方案。


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