全自动探针台——≤5um重复定位精度+正倒装兼容
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-08-14 | 21 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

全自动探针台——≤5um重复定位精度+正倒装兼容


  LED芯片测试不仅需要精密的机械平台,更依赖稳定高效的软件算法和测试系统。探针台的定位精度直接影响测试数据可靠性,软件系统稳定性决定整机长期运行表现。


  标谱全自动探针台采用高精度运控及视觉系统精密定位,XY重复定位精度≤5um。高速运转状态下探针主动下压点亮芯片采集电性数据及光学数据,高精度测试仪器完成每个晶粒的电气特性检测和光学参数检测。

设备兼容正装与倒装LED芯片,承片治具适配7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等多种规格。


  高精度XYθ工作台与精密视觉组件协同,扫描相机全局定位芯片,观察相机将探针与焊盘精准对准,确保每次下针位置准确。搭载自主开发的高效能运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统。自研ESD防护系

统从硬件到软件全面管控静电风险,力值检测系统实时监控探针压力,亮度采集与光源控制系统确保光学测试一致性。所有子系统深度集成保证整机高效协同与长期稳定。内置一体式上下料模块无需额外占用场地。

芯片载环回料过程中出现异常受阻时立即停机报警,抓手配备对射光纤实时检测载环在位情况。


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