管装测试分选机 10K/H速度 8站测试 8面视觉检测
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-05 | 33 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:

管装测试分选机 10K/H速度 8站测试 8面视觉检测


TO系列封装芯片如To-220、To-247、To-251、To-252、To-262、To-263等尺寸较大、引脚形态多样,对测试分选设备的入料方

式、测试站配置与下料分类能力有特殊要求。标谱管装测试分选机专为TO系列较大尺寸芯片设计,运行速度达10K/H,采用多管

入料与多管下料的供收料方式。


设备采用多管入料方式,配有光纤检测产品是否到位,精度高、反应快。由进口DD马达驱动转塔旋转,安装有20个可独立上下

运动的吸嘴,重复定位精度≤10μm。测试站最大支持8站配置,接触方式可选弹片式或夹片式,配有激光红外传感器可检测产品

叠料情况。8面视觉检测系统对芯片进行全方位外观筛查。


拓展副盘标配6或9或12个吸盘位,可选配扫尘、打标等功能。下料机构采用多管下料方式,实现分类后的芯片有序收集。设备运

行速度达10K/H,兼顾了TO系列较大尺寸芯片的测试精度与产出效率。整机采用模块化设计,测试站数量可根据实际需求灵活配置,

后期拓展方便。副盘组件可选一体式或分体式,满足不同客户的预算与性能需求。


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