转塔式分选机 45K/H速度 6站测试 6面视觉检测 18吸嘴转塔
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-05 | 39 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:

转塔式分选机 45K/H速度 6站测试 6面视觉检测 18吸嘴转塔


半导体封装芯片的测试、分选与编带,速度、精度与品控缺一不可。标谱转塔式分选机以45K/H运行速度、6站测试与6面视觉

检测为核心,为SOT、SOP、SOD、QFN、DFN等封装芯片提供全自动化测试分选编带一体化方案。


设备由DD马达驱动主转塔旋转,转塔上安装有18个可独立上下运动的吸嘴。运行速度最高可达45K/H,重复定位精度≤10μm。

上料采用标谱自主研发的振动盘,盘面经特殊防磨、防静电处理。导轨上料时配有光纤检测产品是否到位,精度高、反应快。

材料经过主测试站和拓展副站的双重检测,最大支持6站测试。6面视觉检测系统对芯片进行全方位外观筛查。配有激光红外传

感器可检测产品叠料情况。


设备可检测1.0×1.0mm至6×6mm尺寸范围的芯片。适配SOT23、SOT89、SOD123、SOD323、SOP7/8、ESOP8、MSOP10、

DFN QFN等多种封装形式。副盘组件可选一体式或分体式,标配4个吸盘位,可选配扫尘、打标等附加功能。模块化设计使设

备可灵活定制测试站功能和后期拓展。


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