QFN/DFN测包机:1200pcs/min高速测包,2站测试+5站视觉检测为芯片品质上双保险
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-08 | 25 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:

 

QFN/DFN测包机:1200pcs/min高速测包,2站测试+5站视觉检测为芯片品质上双保险


QFN与DFN封装芯片因其高性能、小尺寸特性,在电源管理、5G通信、汽车电子、医疗传感器等领域应用日益广泛。然而,这

类芯片的测试与编带对设备的精度、速度与检测能力提出了极高要求。标谱半导体QFN/DFN测包机以1200pcs/min的运行速度,

配合2站测试与最大5站视觉检测的配置,为QFN/DFN芯片的全自动测试编带提供了专业解决方案。


设备采用PLC控制系统,通过高效稳定的振动盘将芯片输送至碟片分度盘内。材料经过测试站检测后,系统根据检测结果先将不

良品排除,再由植入机构将良品按设定方向放入载带,最后使用反复热压胶膜与载带完成编带包装。整条流程中,检测能力是品

质保障的核心,设备支持2站测试,视觉检测最大可扩容至5站。


在芯片兼容性方面,设备可测试编带QFN与DFN封装芯片。QFN芯片整体为方形,尺寸在2至7mm之间,焊盘分布在芯片四周,

引脚多,适合高功率、高集成度场景;DFN芯片整体为矩形,尺寸可小于1mm,焊盘分布在芯片两侧、引脚少,适合高频、高

速、高精度场景。设备同样适用于0603及1608等尺寸的芯片。


控制系统采用PLC加运动控制卡的方式,实现精度的实时控制。振动盘为自主研发制造,盘面经过特殊防磨、防静电处理,确保

长期稳定运行。对于QFN/DFN封装芯片的测试编带需求,该设备以高速、高检测能力与良好的芯片兼容性,为半导体封测后段提

供了可靠的产能保障。


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