双振动盘四面外观检测机:180KPH,AI深度学习外观检测
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-15 | 25 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:

双振动盘四面外观检测机:180KPH,AI深度学习外观检测


LED、半导体、被动元件等规则类材料的外观缺陷检测,通常需要兼顾检测项目灵活性与运行效率。标谱双振动盘四面外观检

测机采用双工作站模式,单头运行速度180KPH,结合AI深度学习算法,适用于外观缺陷检测与分类收集。


设备采用双轨道入料,高速振动盘将材料经过真空导料机构输送到光纤检测,再经过相机镜头采集材料四面高清影像。标谱自

主研发的运动控制卡可对各输入信号进行运算和处理,实现对输出执行机构的实时控制。视觉软件具备深度学习功能,可根据

客户需求增加或修改检测项目,包括气泡、杂质、倒线、溢胶、甩胶、胶扩散、表面不良、切偏、模偏、一焊偏、二焊偏、极

性孔溢胶、残胶片、毛刺、来料涂黑、漏固、漏焊等。


检测完成后,由高速吹气模块将对应缺陷的材料吹到四位料盒站,实现分类收集。设备运行效率98%,Bin数量4,影像检测为

四面检测×2,上料方式为振动盘×2。材料要求无毛刺、无灰尘;环境要求无震动、无腐蚀性介质和无强磁场;气源0.45-0.5M

pa,真空度20~70Kpa;重量约600Kg,功率2Kw,电源220V AC(单相)50/Hz 10A,尺寸1250mm×830mm×1900mm(不含

三色灯)。


对于需要对外观缺陷进行灵活定制检测的LED、半导体及被动元件企业,标谱双振动盘四面外观检测机提供了一种基于AI深度学

习的自动化检测方案。


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