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多尺寸芯片测试:设备可检测从4x5mil到60x60mil的多种尺寸芯片,覆盖了市场上常见的LED芯片规格,满足不同客户的测试需求。
高精度测试:采用高精度测试技术和积分球直接收光架构,确保测试结果的准确性和可靠性,为LED芯片的质量控制提供有力支持。
自动化测试:专为CSP LED设计的自动化测试功能,提高了测试效率和准确性,降低了人工操作的成本和错误率。
多针探头测试:通过多针探头同时刺入芯片内部,实现多点并行测试,适用于CSP LED这种高密度封装的测试需求。
复杂、高速器件测试:正装芯片探针台不仅限于LED芯片测试,还可应用于半导体及光电行业中复杂、高速器件的精密电气测量和研发。
科研分析与抽查检测:设备的高精度和自动化特性,使其成为科研分析和抽查检测的理想工具,有助于提升产品研发质量和效率。
晶圆CP测试:在晶圆加工之后、封装工艺之前的CP测试环节中,正装芯片探针台可用于晶圆的输送与定位,确保晶圆上的晶粒依次与探针接触并逐个测试,实现更加精确的数据测试测量。
ESD测试:搭配自主研发的ESD测试仪,可用于静电放电测试,确保芯片在静电环境下的稳定性和可靠性。
高频测试:设备的高精度和稳定性,也使其适用于高频测试等特定测试需求。
正装芯片探针台凭借其高精度、高效率、高自动化等特性,在LED芯片测试、CSP LED测试、半导体及光电行业测试、封装前测试以及特定测试需求等领域具有广泛的应用前景。随着半导体技术的不断发展和应用领域的不断拓展,正装芯片探针台的应用场景也将更加广泛和深入。
正倒装一体探针台
探针台
市场价:¥0.00
价格:¥0.00
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