QFN/DFN测包机共面性检测:激光测高为焊接良率把关
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-26 | 23 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:
QFN、DFN封装靠底部焊盘与引脚焊接,共面性超差会直接导致回流焊空焊立碑,失效往往到整机老化阶段才暴露,损失巨大。测包机集成激光位移传感器,在电测同时完成引脚逐点测高,自动计算共面偏差并分Bin处置。本文解析激光测高原理、判定阈值设定方法与产线落地要点,帮助品质工程师建立共面性全检能力。

QFN、DFN类封装凭借小尺寸与优良电性能成为电源与射频器件主流选择,但其散热焊盘与周边引脚的共面性是焊接环节的隐形杀手。共面性超差的器件贴装后会出现空焊、虚焊,失效往往到整机老化阶段才暴露。

激光测高的检测原理

测包机在测试位布置激光位移传感器,对器件引脚逐点扫描测高,得到引脚相对基准面的高度分布。软件计算最大共面偏差与翘曲量,与设定阈值比较,超差器件自动分入对应Bin。

判定标准如何设定

行业通常参照JEDEC共面性规范,结合客户SMT产线实际能力设定内控阈值。阈值过严会误杀良品,过松则放走风险器件,建议依据下游贴装良率数据回推校准。

产线落地要点

激光测高工位要控温防振,来料表面反光特性也会影响读数,需按封装表面做参数补偿。标谱半导体QFN/DFN测包机将电测与共面性检测整合在同一节拍内,不降产能完成双重筛查,欢迎来电 13510864359 洽谈。

深圳市标谱半导体股份有限公司专注半导体封测设备研发与制造,产品涵盖LED分光机、编带机、分光编带一体机、转塔式测试分选机、正倒装一体探针台、QFN/DFN测包机、被动元件测包机、六面外观检测机与LED散料贴片机。如需设备选型与产线方案,欢迎联系营销热线 0755-23307599 / 13510864359,官网 www.szbiaopu.cn,邮箱 marketing@szbiaopu.cn。

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