全自动探针台:兼容广泛,满足LED芯片多元测试需求
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-10-15 | 71 次浏览 | 分享到:

LED芯片类型多样、规格不一,对测试设备的兼容性提出了极高要求。标谱半导体的全自动探针台,以其广泛的兼容性,成为LED芯片测试的理想之选。

芯片类型兼容

无论是正装还是倒装LED芯片,亦或是CSP LED芯片,该设备都能轻松应对,为不同类型芯片提供精准的测试服务。

规格范围兼容

在芯片规格上,它最小可测3x3mil、最大可测120x120mil的芯片,覆盖了市场上大多数LED芯片的尺寸范围,满足企业多样化的生产需求。

治具类型兼容

承片治具支持7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等多种类型,进一步增强了设备的兼容性,方便企业根据自身生产情况进行选择。

全自动探针台凭借广泛的兼容性,打破了LED芯片测试的局限,为企业提供了一站式的测试解决方案。它使企业无需为不同类型、规格的芯片配备多台测试设备,降低了设备采购成本和管理难度,提高了生产效率。