全自动探针台:集成化设计,开启LED芯片测试便捷新时代
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2025-10-15 | 69 次浏览 | 分享到:

在追求高效生产的今天,设备的集成化程度直接影响着生产效率和成本。标谱半导体的全自动探针台,以其高度集成化的设计,为LED芯片测试带来了前所未有的便捷。

软件系统集成

搭载标谱自主开发的运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统,将多个功能模块整合于一体,操作简便,减少了不同软件之间的切换和兼容性问题。

仪器设备集成

高精度测试仪与设备主体完美集成,无需额外连接复杂的外围设备,节省了安装和调试时间,提高了设备的整体稳定性。

上下料集成

内置一体式自动上下料设计,实现了芯片的自动上下料,无需人工干预,进一步提高了生产效率,降低了人力成本。

全自动探针台的集成化设计,使LED芯片测试变得更加简单、高效。它减少了设备占地面积,降低了设备维护难度,为企业打造了一个便捷、稳定的测试环境,助力企业实现高效生产。