全自动探针台——自主研发运控+视觉+测试系统，掌控芯片测试核心技术

  在芯片测试领域，设备的技术自主性决定了解决方案的深度与响应速度。标谱全自动探针台搭载自主开发的一套完善、稳定、高效能的运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统和高精度测试仪。从运动控制到视觉算法，

再到光电测试，各个环节紧密配合，实现了设备的高效运行与精准测试。

  在高速运转状态下，探针主动下压点亮芯片，精准采集电性与光学数据，对每个晶粒进行电气特性与光学参数检测。高精度XYθ工作台及视觉组件确保了对被测材料的精密定位。设备兼容正、倒装芯片，可测试尺寸范围覆盖

从微型芯片到大尺寸功率芯片的广泛区间。

  承片治具支持7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等多种规格，最大程度满足客户的多样化需求。这一特性使设备能够适配SMD、COB、CSP、MIP等多种封装形式芯片的测试需求。

  在软件层面，标谱自主研发了运动控制、视觉定位和光电测试功能集成的智能控制系统。系统能够实时监控测试过程，自动调整参数以确保测试一致性。设备配备主动式探边器测试组件，芯片载环回料料盒过程中出现异常受

阻时，设备将立即停机并报警，避免客户产品受损。

  内置一体式自动上下料设计是标谱全自动探针台的又一优势。自动抽屉设计使料盒更换便捷——需更换料盒时，料盒载台将被推出至露出机台外。整机高集成化布局，体积紧凑小巧，在有限的空间内实现了高效测试，为企业

节省了宝贵的生产空间。