六面外观检测机—600K/H高速检测+深度学习算法重构外观缺陷筛选新格局

  在LED、被动元器件及半导体芯片的制造流程中，外观缺陷筛选长期依赖传统视觉算法，存在参数设置复杂、适应性有限等痛点。标谱半导体推出的六面外观检测机，将深度学习技术深度融入检测流程，以智能化手段重构了

外观缺陷筛选的能力边界。

  该设备采用运动控制采集卡作为控制核心，由振动盘经过导向块使材料整齐排列到高透玻璃转盘上，材料匀速经过多个高速工业相机，完成产品六个面的图片拍照采集。采集到的图像通过深度学习算法进行智能识别分类，最

后由高速电磁阀将OK与NG材料分别吹入对应的收料盒，完成全自动检测流程。

  高透玻璃转盘表面经特殊涂层处理，有效减少元器件磨损。材料通过真空和高压吸附到玻璃转盘上，整齐有序地排列在同一运动轨迹上，确保拍照与吹气的精准性。深度学习算法相比传统算法无需复杂的参数设置，大幅降低

了操作者的使用门槛，同时具备持续优化的能力。设备可检测LED、被动元器件、半导体芯片等规则形状产品的多种外观缺陷，多个收料BIN的设计为精细化分类提供了充足空间。对于追求“零缺陷”交付的企业而言，六面外观检

测机是不可或缺的品质屏障。