QFN/DFN测包机——1200颗/分钟+5站视觉检测
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-08-06 | 13 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

QFN/DFN测包机——1200颗/分钟+5站视觉检测


  QFN和DFN封装形式凭借优异的散热和电气性能,已成为消费电子、汽车电子和5G通信领域的主力封装。但这类芯片尺寸小、引脚密集,对测试和编带设备的速度、精度与稳定性提出了极高要求。


  标谱QFN/DFN测包机专为微小型芯片的全自动测试编带而设计。设备采用PLC控制系统,通过高效稳定的振动盘将芯片输送至碟片分度盘内。振动盘稳定输送芯片至特殊处理的碟片分度盘,避免粘连或堆叠。碟片分度盘

间歇旋转,芯片依次通过测试站和影像检测站。支持多站测试和多站视觉检测,可覆盖从电性参数到外观缺陷的全方位检验需求。检测完成后,不良品通过多Bin排料系统精准分流。检测逻辑为“先检后排”——根据检测结果

先将不良品排除,再由植入机构将良品按照设定方向放入载带。最后使用反复热压胶膜与载带完成编带包装,编带工艺采用反复热压覆膜技术,确保载带与盖带的封装牢固可靠。设备具备自动补料功能,避免因个别缺料导

致整盘编带报废。


  控制系统采用PLC与运动控制卡相结合的方式,实现精度的实时控制。测试站采用高精度接触方式,配合激光红外传感器实时监测产品状态,确保每一次测试结果的可靠性。模块化设计是这款设备的另一大亮点——测试站

和视觉站均可根据客户需求灵活配置和后期扩展,维护也更加便捷。


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