全自动探针台—≤5um重复定位精度+正倒装兼容
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-08-10 | 15 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

全自动探针台—≤5um重复定位精度+正倒装兼容


  LED芯片测试是一项系统工程,不仅需要精密的机械平台,更依赖稳定高效的软件算法和测试系统。探针台的定位精度直接影响测试数据的可靠性,而软件系统的稳定性则决定了整机的长期运行表现。


  标谱全自动探针台采用高精度运控及视觉系统对被测材料精密定位,XY重复定位精度≤5um。在高速运转状态下,通过探针主动下压点亮芯片采集电性数据及光学数据,使用高精度的测试仪器对每个晶粒进行电气特

性检测和光学参数检测。设备兼容正装与倒装LED芯片,覆盖多种芯片尺寸范围,承片治具适配多种规格铁环。


  高精度XYθ工作台与精密视觉组件协同工作——扫描相机对芯片进行全局定位,观察相机将探针与焊盘精准对准,确保每次下针位置准确无误。搭载标谱自主开发的一套完善、稳定、高效能的运动控制、视觉算法、

光电测试软件集成系统。


  自主研发的ESD防护系统从硬件到软件全面管控静电风险,力值检测系统实时监控探针压力,亮度采集与光源控制系统确保光学测试一致性。所有子系统深度集成,保证了整机的高效协同与长期稳定性。设备内置一

体式上下料模块,料盒自动推入推出,抓手配备在位检测,全程防撞保护,无需额外占用场地。软件系统具有清针、磨针、吹针功能,有效维护探针状态。

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