MIP排片机:40K/H,MIP sensor点测分选全自动贴装
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-16 | 20 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:

MIP排片机:40K/H,MIP sensor点测分选全自动贴装


MIP sensor的点测分选工艺长期依赖人工贴胶、搬运与目检,存在效率低、不良风险高、晶圆环更换频繁等问题。标谱自主研发

的MIP排片机,面向MIP sensor点测分选工艺,将散装材料通过振动盘排列上料,经过视觉判别、旋转校正、电性测试、NG品排

料、校正定位,最终把OK产品精准贴装到wafer上,实现全自动贴装。


设备采用高精度、高速度、高耐久进口DD马达和专用伺服驱动器、控制器及专用软件,集自动上料、视觉检查、电性测试、产品

贴wafer功能于一体。上料机构配置离子风扇和自动加料装置,并具有上下面尺寸和外观检测功能,检测到不良品可自动排除;晶

圆环自动换料功能可避免频繁人工操作,提升自动化水平。转塔机构由进口DD马达驱动,吸嘴真空吸取材料,支持底部视觉检测

材料方向和焊盘缺陷,支持电性检测、NG排料、极性旋转。测试站可对材料进行电性检测与外观判别,确保贴装前品质受控。


设备适用元件为LED晶圆,运行速度≥40K/H(产品尺寸大小会影响速度),设备良率≥99.5%,贴装精度XY:±0.03mm,贴装范围

方形80mm×80mm、圆形φ100mm,料盒尺寸6寸(205×205×1.2mm)外方内圆铁环,适配25层提篮。整机功率1KW,重量1000Kg,

电源220V AC(单相)50/Hz 16A,外形尺寸1300mm×1300mm×2150mm。对于MIP sensor点测分选与Wafer贴装,该设备提供了一

种高自动化、高精度的工艺方案。


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