QFN/DFN测包机:0603~1608尺寸通吃+两组测试站,芯片测包一机覆盖
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-29 | 11 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:

QFN/DFN测包机:0603~1608尺寸通吃+两组测试站,芯片测包一机覆盖

QFN、DFN芯片尺寸小、批量大、焊盘分布在芯片四周或两侧,测试包装环节既要节拍快,也要对不同尺寸规格有足够宽容度。QFN/DFN测包机的尺寸覆盖范围为片状公制0603-1608,两类封装形态、多个尺寸档位共用一台设备,换型时无需更换整机,产线机型数量随之精简。

流程设计紧凑高效:振动盘将芯片输送至碟片分度盘,材料经过测试站检测,根据结果先将不良品排除,再由植入机构按设定方向将良品放入载带,最后反复热压胶膜与载带完成编带包装。速度快是它的标签——最高1200Pcs/Min,在同类设备中处于高节拍梯队。

测试与检测能力留有余量:标准配置两组测试站,影像系统最高可扩容至5站测试,随着客户对检测项目要求的提升可以逐步加装,不用一次性投入到位;不良品分类箱可选9Bin,NG品分类收纳、便于分析;激光打标按产品位置信息进行标记,让每一颗芯片都有可识别的身份信息。分离部支持故障自动排除,减少非计划停机。

细节配置体现专业度:上剥离力控制在16~60gf区间,保证盖带剥离手感一致;采用PLC控制系统与步进驱动系统,精度实时控制;自动补料让料位不足时自动跟上。整机功率1KW、重量约300Kg、220V单相供电,占地小、挪动灵活,模块化设计维护方便、扩展性强。对芯片测包环节来说,这台设备把"尺寸兼容"和"检测可扩"两件事一起做扎实了。



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