QFN/DFN测包机—碟片分度盘精密传料+多站检测,为微小型芯片搭建完整测包流程
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-08-05 | 16 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

QFN/DFN测包机—碟片分度盘精密传料+多站检测,为微小型芯片搭建完整测包流程


  QFN与DFN封装芯片以其小尺寸、高密度引脚的特点在5G通信、汽车电子及医疗传感器等领域广泛应用。但微小的几何尺寸也给测试与编带带来了巨大挑战——芯片体积小、引脚密集、焊盘底部隐藏,上料时的姿态控

制和测试时的精准定位都更加困难。


  标谱QFN/DFN测包机以碟片分度盘为传料核心,将测试、排料与编带集成为全自动流程。设备采用PLC控制系统,通过高效稳定的振动盘将芯片有序输送至特殊处理的碟片分度盘内,避免粘连或堆叠。碟片分度盘间歇

旋转,芯片依次通过测试站和影像检测站。


  设备支持多站测试和多站视觉检测,可覆盖电性参数与外观缺陷的全方位检验。检测逻辑为“先检后排”——根据检测结果先将不良品排除,再由植入机构将良品按照设定方向放入载带。最后使用反复热压胶膜与载带完

成编带包装。


  控制系统采用PLC与运动控制卡相结合的方式,实现精度的实时控制。模块化设计使测试站支持多站配置并可扩容。振动盘为自主研发制造,盘面经特殊处理防磨防静电。对于微小型芯片的测试编带而言,碟片分度盘的

平稳传料与多站检测的层层把关,确保了每一颗芯片在进入载带前都经过了充分的品质验证。


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