QFN/DFN测包机 | 1200pcs/min高速运转+5站视觉检测,为芯片测包装上“涡轮增压”
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-08-07 | 15 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:

QFN/DFN测包机 | 1200pcs/min高速运转+5站视觉检测,为芯片测包装上“涡轮增压”


  QFN与DFN封装芯片在消费电子、汽车电子、5G通信等领域的应用日益广泛,对测试编带环节的效率与精度提出了更高要求。标谱半导体推出的QFN/DFN测包机,以1200pcs/min的高速处理能力和最高五站视觉检测的全

面品控能力,成为芯片测包装备领域的有力竞争者。


  速度直击产能核心。 设备运行速度可达1200pcs/min。这一速度的实现,得益于PLC控制系统与运动控制卡相结合的控制方式,以及高效稳定的振动盘与碟片分度盘传料系统的协同配合。材料由振动盘输送至碟片分度盘

内,随后经过测试站检测,根据检测结果先将不良品排除,再由植入机构将良品材料按照设定方向放入载带内,最后使用反复热压胶膜与载带完成编带包装。设备可适用的芯片尺寸范围广泛,整体设计紧凑。


  全面检测,为品质护航。 设备支持二站电性测试,最大支持五站视觉检测。影像系统可扩容至五站测试,对芯片进行全方位视觉检查。同时支持多站检测,可满足不同封装芯片的个性化测试需求。不良品排除采用专门机

构,配合自动补料功能,确保编带成品的良率。


  模块化设计,维护方便扩展性强。 设备整体采用模块化思路,客户可根据实际需求灵活配置测试站与影像站数量。从振动盘上料到编带收卷,每个环节都经过精心优化。对于QFN/DFN封装产线而言,这款测包机是兼顾速

度与品质的理想选择。


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