QFN/DFN测包机——1200颗/分钟,5站视觉检测,小芯片也有“大能量”
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-08-20 | 3 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ | 分享到:


QFN/DFN测包机——1200颗/分钟,5站视觉检测,小芯片也有“大能量”


QFN与DFN封装芯片在消费电子、汽车电子、5G通信等领域的应用日益广泛,对测试编带环节的效率与精度提出了更高要求。标谱半导体推出的QFN/DFN测包机,以1200pcs/min的高速处理能力和最高五站视觉检测

的全面品控能力,成为芯片测包装备领域的有力竞争者。


速度直击产能核心。设备运行速度可达1200pcs/min,每分钟可完成1200颗QFN或DFN芯片的测试与编带。这一速度的实现,得益于PLC控制系统与运动控制卡相结合的控制方式,以及高效稳定的振动盘与碟片分度盘

传料系统的协同配合。材料由振动盘输送至碟片分度盘内,随后经过测试站检测,根据检测结果先将不良品排除,再由植入机构将良品材料按照设定方向放入载带内,最后使用反复热压胶膜与载带完成编带包装。


全面检测,为品质护航。设备支持2站电性测试,最大支持5站视觉检测。影像系统可扩容至5站,对芯片进行全方位视觉检查。设备可适用的芯片尺寸覆盖0603至1608,可检测QFN和DFN两种封装芯片。不良品排除采

用专门机构,配合自动补料功能,确保编带成品的良率。


模块化设计让维护方便、扩展性强。设备整体采用模块化思路,客户可根据实际需求灵活配置测试站与影像站数量。从振动盘上料到编带收卷,每个环节都经过精心优化。对于QFN/DFN封装产线而言,这款测包机是兼

顾速度与品质的理想选择。


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