全自动探针台:≤5um定位,3×3~120×120mil芯片测试
来源: | 作者:标谱半导体 | 发布时间: 2026-09-10 | 40 次浏览 | 🔊 点击朗读正文 ❚❚ ▶ | 分享到:



全自动探针台:≤5um定位,3×3~120×120mil芯片测试在正装、倒装LED芯片、CSP LED等芯片测试中,探针台需要在高速运转下保持精密定位与稳定测试。标谱自主研发的全自动

探针台,用于正装、倒装LED芯片、CSP LED等芯片进行光学及电性测试。设备采用高精度运控及视觉系统对被测材料精密定位,


在高速运转状态下,通过探针主动下压点亮芯片,采集电性数据及光学数据,并使用高精度测试仪器对每个晶粒进行电气特性

检测和光学参数检测。


这款设备具备“稳定高效、精度高、兼容广、省空间”等特点。自主研发软件、测试系统与核心组件,使整机集成度更高;高精度

XYθ工作台及视觉组件,XY重复定位精度≤5um;兼容正、倒装芯片,可测试3×3~120×120mil芯片;内置一体式自动上下料设计

,不占额外场地。设备兼容性好,最多可20针同步测试,承片治具支持7寸子母环、4寸特规小铁环和6寸DISCO铁环等。搭载标谱

自主开发的一套完善、稳定、高效能的运动控制、视觉算法、光电测试软件集成系统和高精度测试仪,整机高集成化布局,体积紧

凑小巧,系统高效稳定,测试精度更高。


设备可测试SMD、COB、CSP、MIP多种封装形式芯片,兼容各种不同类型的上料环,最大程度满足客户需要。核心组件包括气路组

件、精准视觉组件、精密XYθ工作台,可满足正倒装兼容设计。通过观察相机将探针与芯片引脚对准,扫描相机对芯片逐一扫描并精

准定位,保证测试位置精准。主动式探边器测试组件也是核心组件之一。设备还配置扫码枪、视觉组件、托手组件、安全光栅、料盒

升降组件、抓手组件、气源组件、三维座组件、工控机、测试仪等。


在软件与测试系统方面,标谱自主研发运控、视觉、光电测试软件系统,操作方便,扩展性高;扫描判别率>99.95%,扫描速度快;

产品参数存档,错误信息存档记录;具有清针、磨针、吹针功能,可根据客户需求定制。自主研发ESD、自主研发电性测试仪,精度

高;自主研发力值检测系统可准确采集压力值,采集精度高达±0.1%;亮度板采集精度高达±0.5%;光源板输出精度高达±1%;4通

道光源电源,单个通道支持最大2A恒流控制;光源输入电压可调,光源恒流最大值可调;百兆以太网通讯。全自动上下料、料盒监测、

防撞保护、自动数片等设计,进一步提升芯片测试的安全性与连续性。


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